景深增強數(shù)碼顯微鏡VISION Engineering
全視圖 – 聚焦 – 快速
DeepFocus 1數(shù)碼顯微鏡,結合蔡司Visioner1和MALS™技術,提供比傳
統(tǒng)顯微鏡系統(tǒng)更大的景深(DoF),在單一視圖中提供實時清晰的影像
。
無論是在質量實驗室負責研發(fā)還是在生產線上,越快速 地識別和報告問題或理解樣本故障,就能越及時地交付
高質量的產品。
DeepFocus 1的先進3D立體可視化技術令用戶可從任何角 度觀察物體。高度圖和地形圖以容易理解的視圖顯示捕 獲的數(shù)據,包括Z軸高度細節(jié)
。
這些查看模式可確保令失效分析和質量控制更加高效,與傳統(tǒng)觀測系統(tǒng)相比,可更快速地提供準確結果
。
全焦點 傳統(tǒng)觀測系統(tǒng)受景深深淺的限制,特別是在高倍放大時。只能聚焦樣品的一小部分區(qū)域
,則有可能導致特征
缺失和觀測不完整。DeepFocus 1數(shù)碼顯微鏡可以在單一視圖中擴展多達100 倍的樣本景深。
高度達69mm組件的銳聚焦圖像在單一視圖中顯示,無需
重新定位組件,避免任何額外的重聚焦或Z軸堆疊處理。
應用 模塊化的結構、軟件和配件使得DeepFocus 1可以靈活配
置,適合多種廣泛應用,適用于大多數(shù)工業(yè)環(huán)境中多種
多樣的目標物觀測任務。
它占地面積小,非常適合車間質量控制。能夠立即記錄
檢查任務 ,成為需要嚴格監(jiān)管行業(yè)的理想選擇,如航空
航天和醫(yī)療設備制造 。
專為提高生產率設計
DeepFocus 1不僅簡化了成像和文檔記錄任務 ,而且實時擴展景深視圖EDoF使用戶
能夠更快地檢查組件 ,提供更高的工作量。
無論是在質量實驗室負責研發(fā)還是在生產線上 ,越快速
地識別和報告問題或理解樣本故障 ,就能越及時地交付
高質量的產品。 DeepFocus 1的先進3D立體可視化技術令用戶可從任何角 度觀察物體。高度圖和地形圖以容易理解的視圖顯示捕
獲的數(shù)據,包括Z軸高度細節(jié)
。
這些查看模式可確保令失效分析和質量控制更加高效,
與傳統(tǒng)觀測系統(tǒng)相比,可更快速地提供準確結果。
全焦點 傳統(tǒng)觀測系統(tǒng)受景深深淺的限制,特別是在高倍放大
時。只能聚焦樣品的一小部分區(qū)域,則有可能導致特征
缺失和觀測不完整。
DeepFocus 1數(shù)碼顯微鏡可以在單一視圖中擴展多達100 倍的樣本景深。高度達69mm組件的銳聚焦圖像在單一視圖中顯示,無需
重新定位組件,避免任何額外的重聚焦或Z軸堆疊處理。
應用 模塊化的結構、軟件和配件使得DeepFocus 1可以靈活配
置,適合多種廣泛應用,適用于大多數(shù)工業(yè)環(huán)境中多種
多樣的目標物觀測任務。
它占地面積小,非常適合車間質量控制。能夠立即記錄
檢查任務,成為需要嚴格監(jiān)管行業(yè)的理想選擇
,如航空
航天和醫(yī)療設備制造。專為提高生產率設計
DeepFocus 1不僅簡化了成像和文檔記錄任務,而且實時擴展景深視圖EDoF使用戶
能夠更快地檢查組件,提供更高的工作量。
與所有Vision Engineering產品一樣,DeepFocus 1也是
為提高操作者效率而設計。DeepFocus 1即使在操作目標物或樣品含有移動部件時也能保持清晰的聚焦圖像。通過消除觀測過程中重新聚焦的需要 ,或耗時的Z軸堆疊
圖像處理 ,顯著提高生產率。
三種查看細節(jié)的方式 除了擴展景深視圖(EDoF) ,還可在“高度
圖"模式或“地形圖"模式查看目標物 。通過不同的方
式顯示信息 ,可以突出細節(jié)特征并更清楚地理解。
簡單快速報告 行業(yè)法規(guī)和質量控制過程意味著詳細的檢驗報告是必要 和重要的要求 ?div id="m50uktp" class="box-center"> ?煽焖俸唵蔚?從實時視圖中獲取2D圖
像。 這些圖像像任何標準寬場顯微鏡圖像一樣可供使用 和分析 。 測量疊加圖可以應用于實時圖像
,并可立即給
出公差差異指示。定制化的工作界面 ,即使在不同部件和檢查之間切換
,
也可獲得快捷的、可重復的報告 ,簡化流程并減少操作
失誤 。
測量 內置的測量功能,包括“出入"公差提示 ,輕松獲得詳
細報告 。 在實時視圖中測量,并從捕獲的圖像中進行增
強測量 ,可加快和簡化細節(jié)分析任務
。
對輪廓特征的簡單檢查中增加了重要的Z軸作為可用信息。 測量工具 實時測量圓 、線
、多邊形和矩形詳細尺寸,面積
、距離
和角度。
靜態(tài)測量增加了Z軸角度、距離和半徑,以及注釋
、多距
離測量和曲線。優(yōu)化照明 不同特征的高清晰度成像往往需要特定的照明模式。DeepFocus 1有可調節(jié)的環(huán)形光和同軸光,為每個目標物提供正確的照明。自動眩光控制技術可為反光的目標物提供實時無眩光圖像。內置同軸光為反光表面及側面帶來理想照明,并可帶來細孔底部的清晰無陰影圖像。
軟件選項 通過一系列額外的數(shù)碼顯微鏡軟件來擴展更多應用范圍、提高效率和擴展功能。添加諸多功能如先進的圖像分析、可審批可溯源的工作流程、自動測量和評估等。
技術參數(shù)
光學 |
視場(最大) | 2.8 x 2.1mm | 5.4 x 4.0mm | 20.1 x 15.1mm |
工作距離 | 17mm | 47mm | 167mm |
分辨率(最大) | 125 Lp/mm | 65 Lp/mm | 17 Lp/mm |
擴展景深(最大) | 1.8mm | 6.4mm | 69.0mm |
照明 |
內置LED同軸光源 |
LED環(huán)形燈,3環(huán)8段照明(支持眩光消除) |
可選右側 LED光源,1環(huán),優(yōu)化2.5倍放大(支持眩光消除) |
內置3百萬像素彩色攝像頭 |
最大圖像尺寸: 2048 x 1536 像素(實時及快照模式) |
最大圖像尺寸:: 800 x 600 像素(實時及快照模式) |
支架選項
臺式支架 穩(wěn)定性高,占地面積小,結構緊湊。 適用于小型元件的高倍放大。Z軸定位 可調,便于設置。
多維支架 靈活性和適應性高。 旋轉、傾斜 、提
升和重新定位 ,快速便捷。適合大面
積長深度及的目標物 ,輕松調整工作
距離。 可直接安裝到工作臺上 。
EVOTIS 配置 先進的檢測工作站 ,適用于大面積PCB
元件和托盤組件。 獨立X/Y軸鎖定 。
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